Investigation of the CT-induced random surface deviations using a multi-wave standard

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Este artigo identifica como a tomografia computadorizada (TC) pode gerar desvios aleatórios na superfície dos objetos medidos. Utilizando um padrão multi-onda, a pesquisa busca avaliar a precisão das medições e identificar as variáveis que impactam a qualidade dos dados obtidos. Este estudo é crucial para entender as limitações da TC em aplicações industriais e médicas, onde a precisão dimensional é fundamental para garantir resultados confiáveis.

Os resultados revelam que as variações de superfície induzidas pela TC podem afetar significativamente a interpretação dos dados, destacando a necessidade de métodos adequados para mitigar esses efeitos. O artigo discute as implicações práticas dessas descobertas, sugerindo que a implementação de padrões rigorosos de teste pode melhorar a confiabilidade das medições por TC. Com isso, empresas e instituições podem assegurar maior qualidade em seus processos de controle dimensional, aumentando sua competitividade ao adotar tecnologias avançadas e precisas na metrologia.

Tenha acesso ao material completo clicando aqui.

AUTORES

  • Francisco A. Arenhart
  • Vitor C. Nardelli
  • Gustavo. D. Donatelli
  • Mauricio. C. Porath

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