Desenvolvimento e validação de novas peças-padrão para tomografia computadorizada industrial

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Este trabalho explora a criação e a validação de um conjunto inovador de peças parametrizadas destinadas a melhorar a precisão das medições por tomografia computadorizada (TC) em ambientes industriais. A pesquisa destaca a importância da TC como uma tecnologia emergente na metrologia, capaz de medir peças com geometria complexa e características materiais variadas. Durante o processo de medição, as decisões tomadas pelo operador influenciam significativamente a qualidade dos resultados, tornando essencial o desenvolvimento de peças que simulem as condições reais de medição.

Os resultados do estudo demonstram que as novas peças-padrão foram desenvolvidas com uma abordagem sistemática, levando em consideração os melhores métodos de engenharia de precisão. A validação experimental das peças permitiu um entendimento mais profundo sobre a relação entre os parâmetros de configuração da medição e a qualidade do processo. O artigo conclui que a implementação dessas peças-padrão pode contribuir significativamente para a consolidação da tomografia computadorizada na metrologia dimensional, otimizando o processo de setup e melhorando a confiabilidade das medições em diversas aplicações industriais.

Tenha acesso ao material completo clicando aqui.

AUTORES

  • Rafael Pacheco dos Santos

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